تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۶۱ ثانیه یافت شد.

1. Defect detection using enhanced local binary pattern

پدیدآورنده : Fadya m -Alkuzaai, -Alkuzaai,

کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)

موضوع : Detection, local binary pattern, texture, machine vision, texture defects.

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها